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bruker光學(xué)輪廓儀Contour GT系列利用白光干涉來測量納米級至微米級的表面形貌，并且具有業(yè)界Z大視場下的Z高垂直分辨率。

Bruker檢驗(yàn)科用原子力顯微鏡結(jié)合了原子力顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡并保留了兩者各自的優(yōu)點(diǎn)，大大減少了對實(shí)驗(yàn)的時間和精力的投入，是生命科學(xué)領(lǐng)域易用的原子力顯微鏡。

Bruker AXS 掃描探針顯微鏡Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產(chǎn)品中的產(chǎn)品，其閉環(huán)掃描的噪音水平接近一些開環(huán)掃描系統(tǒng)的水平，可廣泛應(yīng)用于器件表征、物理、材料科學(xué)和生命科學(xué)領(lǐng)域。

Bruker原子力顯微鏡/檢驗(yàn)科用 Dimension Edge融合了布魯克 Dimension Icon 系列上所應(yīng)用的一些創(chuàng)新技術(shù)，因而達(dá)到了同類產(chǎn)品的Z高水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價(jià)比的強(qiáng)大工具。